Rasterelektronenmikroskopie (REM) / Energiedispersive RöntgenMikroanalyse (EDX)
Mit Rasterelektronenmikroskopie und EDX-Analyse machen wir Oberflächenstrukturen stark vergrößert sichtbar und bestimmen die Elementzusammensetzung, etwa bei Schadensanalysen.
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Moderne Analysetechnik
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REM / EDX
Bei der rasterelektronenmikroskopischen Untersuchung (REM) kann die Oberfläche einer Probe stark vergrößert werden. Dabei tastet ein feingebündelter Elektronenstrahl die Oberfläche ab (“Rastern”). Die Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt werden zur Erzeugung eines Bildes genutzt. Die energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDX – Energy dispersive X-ray spectroscopy) ist eine Form der Elementanalyse, bei der die charakteristische Röntgenstrahlung der enthaltenen Elemente detektiert wird.
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